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在DC耐壓測(cè)試時(shí),為何需要緩升時(shí)間? |
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來(lái)源:富士特電氣 人氣:26019 發(fā)布時(shí)間:2012-06-09
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DC耐壓測(cè)試通常會(huì)需要加上緩升時(shí)間以及放電時(shí)間,因?yàn)榇蠖嗟腄UT具有電容性而會(huì)導(dǎo)致充電電流產(chǎn)生。為了使充電變位電流(charge current)穩(wěn)定,需要緩升時(shí)間來(lái)緩沖,才不會(huì)因充電電流而導(dǎo)致漏電流過(guò)高,進(jìn)而判斷為不良品(FAIL)。
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